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        產品資料

        盤式實驗粉碎磨

        如果您對該產品感興趣的話,可以
        產品名稱: 盤式實驗粉碎磨
        產品型號: JSFM-Ⅰ
        產品展商: 杭州大吉光電儀器有限公司
        產品文檔: 無相關文檔

        簡單介紹

        盤式實驗粉碎磨JSFM-Ⅰ型實驗室粉碎磨 JSFM-Ⅰ型實驗室粉碎磨是一種無水分丟失的盤式實驗粉碎磨,可碾磨谷物、豌豆、玉米、大豆和其它低脂肪含量的谷物。


        盤式實驗粉碎磨  的詳細介紹

        JSFM-Ⅰ型實驗室粉碎磨是一種無水分丟失的盤式實驗粉碎磨,可碾磨谷物、豌豆、玉米、大豆和其它低脂肪含量的谷物。樣品在尖銳的磨盤間被切碎,收集在易取下的塑料樣品杯中。磨盤設計合理,碾磨快速、升溫很低,不會造成水分丟失。通常碾磨量為5-50克。谷物水分檢測碾磨量為10-15克。符合GB/T 21305-2007《谷物及谷物制品水分的測定 常規法》、ISO 712:1998《谷物及谷物產品水分含量測定法對粉碎設備的相關要求》,是一種磨盤式粉碎磨。樣品磨碎的粗細度決定于磨間的距離,磨盤間距可調,樣品在鋸齒形盤間被切碎,收集在塑料樣品杯中。

        本該產品具有以下特點:
        1、碾磨快速,粉碎過程設備沒有明顯發熱。
        2、磨盤間距可調,滿足不同粉碎細度要求。
        3、粉碎系統全密封,清理方便,不會造成樣品存留。
        4、外形美觀、經久耐用。
        5、碾磨快速,不會造成樣品水分丟失等特點。

        盤式實驗粉碎磨產品參數:

        磨盤直徑:Φ80㎜;
        研磨能力:300g/min;
        工作噪音:<68dB;
        調節檔位:20檔;
        磨碎樣品水分范圍:≤18%;
        收集容器的容積:100g;
        電源:220V 50HZ;
        磨盤
        樣品磨碎的粗細度決定于磨盤的類型和磨盤間的距離。該粉碎磨磨盤間距有六個檔可調。
        磨盤分三種類型,滿足不同要求。
        I型-標準型
        用于水分含量測量
        II型-細型
        用于測定顆粒度指數PSI或碾磨細樣品。
        III型-粗型
        用于測量燕麥和其它高水分樣品

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